工艺尺寸的急剧缩小,使得数字电路的性能得到了大幅度的提高。但是与此同时,也给数字电路的可靠性问题带了更多新的挑战。纳米工艺条件下,老化是影响数字电路可靠性的主要问题之一。老化会导致晶体管阈值电压升高,逻辑门单元翻转速度减慢,电路时延增大,导致时序违例的发生,最终引发电路失效。已有统计表明,老化会在10年内使数字电路的工作速度最多降低20%。本论文针对数字电路老化失效预测与防护技术进行研究,分别在电路老化关键路径选择、老化失效在线预测、老化过程度量和老化失效防护问题上提出了相应的解决方法。具体内容和主要创新点如下：(1)基于信号翻转概率的数字电路老化关键路径分析。数字电路中不同路径的老化过程并不相同,只有某些关键路径在老化效应的影响下才会发生时序违例,并最终引起电路失效。传统的老化关键路径选择方法无法有效的缩小关键路径集合规模。本文针对数字电路老化关键选择问题进行研究,提出集合规模-数控滚圆机电动液压滚弧机价格低张家港数控滚圆机多少钱了基于信号翻转概率的数字电路老化关键路径选择方法。本方法综合考虑电路逻辑门的信号翻转概率,计算电路中工作负载占空比的变化过程本文由弯管机网站采集网络资源整理! http://www.wanguanjixie.com   ；并根据变化的工作负载占空比来计算电路的老化时延,进行老化关键路径的选择。实验数据表明,本文的方法能有准确的反应出电路中数据通路的时延变化过程,有效的缩小了关键路径集合的规模。(2)基于双沿采样的数字电路老化失效在线预测。老化效应在电路层的特征表现为路径时延的增加。通过对数字电路信号的在线测试和分析,能够有效预测电路是否即将因老化而引起错误的发生。优化的在线预测电路设计是数字电路老化预测的关键问题。本文针对数字电路在线预测进行研究,提出了基于双沿采样的数字电路老化失效在线预测方法。本方法在老化故障模型分析的基础上,针对电路层老化特征,采用双沿触发器作为aging sensor的数据采样和存储单元,使用电路组合逻辑的输出信号作为检测电路的时序控制信号,利用触发器的建立时间产生预测窗口,通过分析aging sensor的采样结果来预测电路的老化情况。仿真实验表明,本文的在线预测方法在保持准确预测电路的老化失效功能的前提下,对工艺偏差影响具有很好的容忍性；同时,本方法还具有低功耗、低面积开销和低性能影响的优点,有效的解决了数字电路老化在线预测电路的综合优化设计问题。集合规模-数控滚圆机电动液压滚弧机价格低张家港数控滚圆机多少钱本文由弯管机网站采集网络资源整理! http://www.wanguanjixie.com